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线材测试机功能调试资料 CT-8381/8683/8685等调试资料、线材测试机参数设置资料

日期:2019-05-31 06:42
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摘要: CT-8685系列电测机培训教材 一.各按名称及功能 1.系统按键群组 a. [Func] 系统功能选单 b.. [Setup] 系统设定选单 c. [Print] 打印功能选单 2. 量测快速键键群组 a. [File] 档案管理设定 b. [Save] 储存测试设定数据文件设定 c. [Learn] 断短路学习 d. [Stat] 列示测试统计资料 e. [Mode] 测试模式设定 f. [O/S] 断短路表显示 g. [Cond] 导通阻抗测试编辑 h. [R] 电阻设定编辑 j. [C] 电容设定编辑 k. [Hipot...

CT-8685系列电测机培训教材

一.各按名称及功能

1.系统按键群组

a。 [Func] 系统功能选单

b。。 [Setup] 系统设定选单

c. [Print] 打印功能选单

2. 量测快速键键群组

a. [File] 档案管理设定

b. [Save] 储存测试设定数据文件设定

c.  [Learn] 断短路学习

d. [Stat] 列示测试统计资料

e。  [Mode] 测试模式设定

f.  [O/S] 断短路表显示

g.  [Cond] 导通阻抗测试编辑

h. [R] 电阻设定编辑

j。 [C] 电容设定编辑

k。 [Hipot] 高压设定编辑

l. Diode([Shift]+[R]) 二极管设定编辑

3. 控制按键(EditKey)群组

a。 文数字键 用以输入文数字,包含0~1,A~Z,./

b. [BS] (ß) 退格键(Back Space)

c.方向键 用于光标之移动,包含[←] [→] [↑] [↓]

[PgUp] [PgDn]以方便资料编辑

d. [Exit] 使系统跳离目前状态并回到前一状态

4. [Enter] 确认键

5. [TEST] 开始量测键

6.操作辅助键(SoftKey)群组

S1~S6 位于LCD 右侧,作为辅助操作/设定用

7. [Reset] 系统重置键,相当于暖开机(Warm Start)

.按键操作

功能设定与分析模式包含系统主功能[Func]、系统设定[Setup]与打印功能[Print]. 

1.系统主功能 (Function)

提供系统之主要功能选单,首先按下[Func]

在以[↑]或[↓]键选择所需项目,按[Enter]即可进入选择项目功能,可按[Exit]退回上一画面.

2. 系统自我测试

本功能可设定此一机台是否于开机后会直接执行自我测试的功能.首先按[Func],再以[↑]或[↓]选定本项目后按[Enter],此时系统则会执行自我测试的功能,可按[Exit]跳离.

3. 设定系统时间

本功能可调整系统的年/月/日/时/分/秒,按下[Func],请以[↑]或[↓]选择至本项目并按下[Enter],请分别输入正确日期与时间,输入完毕请按S1[设定]储存,可按[Exit]跳离.时间为24 小时制。

4.更改系统密码

本测试机提供按键保护,以避免资料被任意修改。首先 按下[Func],请以[↑]或[↓]选择至本项目并按下[Enter],请输人原密码并按下[Enter],请使用文数字键键入新密码并按[Enter]且牢记此密码,请再次输入新密码,确认新密码并按[Enter],此时屏幕上会显示{设定成功},新密码设定成功会自动跳回功能选单中,若要修改密码,请重复以上之设定步骤.

5. 设定屏幕明暗

本功能提供LCD 画面亮度的控制,值愈大亮度愈亮,共分为0~10 阶段,默认值为 | 5 |,首先按下[Func],再以[↑]或[↓]选择至本项目并按下[Enter],依需要按下S1 [更亮]或S6[更暗]变更其亮度,并按[Enter]确认,变更完毕后,可按[Exit]跳离。

6. 直流高压校正

直流高压校正功能即调整Read(量测值)*近似于DC 设定值。首先按下[Func],再以[↑]或[↓]选择至本项目并按下[Enter],然后按S1[上升]或S2[下降]调整Read(量测值)*近似于DC 设定值,设定完毕,请按S4[完成],若欲取消设定之资料则可按S6[放弃]即可。

7. 绝缘阻抗校正功能

即测试电压设定为200V~700V 量测值为无穷大。首先按下[Func]再以[↑]或[↓]选择至本项目并按下[Enter],按S1[上升]或S2[下降] , 设定完毕,请按S4[完成]若欲取消设定之资料则可按S6[放弃]即可。

8. 内部阻抗归零

本功能可执行机器内部阻抗归零之动作。首先按下[Func],再以[↑]或[↓]选择至本项目并按下S1[归零]或[Enter], 按下[Enter]即可执行内部阻抗归零的动作(当您欲执行内部阻抗归零时,请先插好归零治具),若PORT A (A 槽)完成内部阻抗归零,LCD 会显示询问是否依序进行,然后依次可以进行B、C、D的归零。按下S6 [**归零]可执行**内部阻抗归零的动作.

F 归零意指将所有PIN 脚完全部短路后,予以量测其值并储存于机器内部,

并修正杂散电容阻抗,以确保量测准确度。

9. 寻找输出点位 (Pin Search)

本功能可显示出目前的输出点位为何。首先按下[Func],再以[↑]或[↓]选择至本项目并按下[Enter],将自动找点探针接于Pin Search接头上,并将探针指于你所欲得知之点位上。

.系统设定 (Setup)

系统设定包括系统组态与测试相关动作设定. 首先按下[Setup]再以[↑]或[↓]选择所需项目,并按[Enter],若有需要请按S1[项目选择]切换.完毕可按[Exit]跳离.

1. 按键声音

本测试机可依需要开启/关闭按键的声音。默认值为|全部有声|

n 全部有声 按键无论有效键或无效键皆设定有声响

n 全部无声 按键无论有效键或无效键皆设定无声响

n 有效键声 有效键才设定有声响

n 无效键声 无效键才设定有声响

2. 按键操作

本测试机提供按键保护,以避免资料被任意修改。默认值为| 开放 |。首先按下[Setup],再以[↑]或[↓]选择至本项功能,按S1[项目选择],然后输入旧密码.解除保护模式时若忘记密码,在画面显示{输入旧密码}后按[Shift]+[BS]即可显示原密码

3.测试警报

本功能提供测试结果之警讯,共有3 个选项,可视其需要加以设定

n 全部有声 不论待测物测试结果为良品或不佳皆设有声响

n 全部无声 不论待测物测试结果为良品或不佳皆设无声响

n 不佳有声 只设定待测物测试结果为不佳才有声响

n 良品有声 只设定待测物测试结果为良品才有声响                                                 显示及打印测试资料

本功能即设定测试统计资料显示及打印的型式,共有三个选项

n 全部显示 不论错误与否皆显示及打印测试资料

n 全不显示 不论错误与否皆不显示及打印测试资料

n 错误步骤 显示及印列错误步骤

4. 统计测试结果

本功能为切换系统是否进入统计模式,共有二个选项,默认值为|否|,说明如下

n 是 统计模式打开

n 否 统计模式关闭

F 统计模式之激活会影响测试速度,请视需要再打开此功能

5. 开机自我测试

共有二个选项,默认值为│是│

n 是 须作开机自我测试

n 否 不须作开机自我测试

6.连续错误警报声

当测试发生错误时,会出现连续错误警报声响

7.测试档案

共有三个选项,默认值为│自动判别│

n 自动判别 测试系统自动判别为单一档案或循序档案测试

n 单一档案 指定为单一档案测试(即主画面所显示之{目前档案})

n 循序档案 指定为循序档案测试(无论目前主画面所显示之{目前檔

}为何,皆进行循序档案之测试)

8打印功能选单 (Print)

本测试机提供直接的打印机输出,方便您将所需要的资料打印出来.

(a) 选定所需资料或画面

(b) 按下[Print]即可

9.学习断短路设定 (Learn)

本机台对于断短路设定是以学习的方式作设定的,亦即将测试线材之连接

情形记忆在系统中,而系统将测试之结果显示于LCD 上

1. 当测试模式设定中[MODE],线材种类设定为{一般}首先按下[Learn]当进行线材测试时,按下[TEST].由LCD 显示画面中,我们可得知测试总数及良品、不佳品的数目.

2. 当测试模式设定[MODE]中,线材种类设定为{点测}首先按下[Learn]. 使用自动寻点探针指定所欲测试之短路点位,比如:当您使用自动寻探针,并将之置于线材指定之点位上(A01),按下S1[循序学习], 依序将探针置于线材指定之点位上(A03,A05,A07)亦按下S1[循序学习],完毕,请按S4[完成],请按[Enter]储存档案或按[Exit]跳离,亦可键入新檔名再按[Enter]另存新档,当进行线材测试时,按下[TEST]. 请利用自动寻点探针置于A01.请务必依序并利用自动寻点探针置于A03,A05,A07,即可完成线材测试之动作,因*初我们预设4 个步骤,所以每一待测物之测试,均须循序测试由。步骤1 至步骤4 完全正确无误才算良品。

F *大只能设定64 个测试步骤

3.试模式设定中,线材种类设定为{单边}首先按Learn], 画面中右边所显示出之数值即为所谓的单边测试灵敏度(请参考P39.P40)。当进行线材测试时,按下[TEST], LCD 显示画面中,我们可得知测试总数及良品、不佳品的数目。

11. 查看统计资料 (Statistic)

本功能可查看测试结果之统计资料,包括:测试总数、良品个数、不佳品

个数以及不佳原因分析亦即寻求项目分类不佳品个数,首先按Stat],按下S1[数量比率],则可使统计资料以百分比的型式呈现,按下S6[**资料],则会将现有的统计资料完全**.完毕后,可按[Exit]跳离

12.Chapter III 综合测试模式

测试模式是利用程序化设计功能,针对不同之测试项目设定不同之测试条件,而予以同时且自动之测试,以满足不同之需求,达到*佳效率,可分成

n 测试条件设定

n 综合测试实作

n 档案管理

测试条件设定

此部份指的是针对待测物(DUT)测试时所设定的一些管制标准与相对应的测试条件,包含O/S / Cond / R / C / HIPOT / Diode 设定,其内容主要为

n 各测试项目(Parameter)之测试讯号(频率、电压大小、电流等)

n 管制标准,规格管制标准值、误差比率

a.断短路表{ o/s}

首先按O/S,断短路表是利用学习的方式而来的,完毕可按[Exit]跳离

b.导通阻抗测试编辑 (C)

首先按下[Cond],再以[↑]或[↓]选择至您所要设定之项目,导通阻抗设定,请依需要利用数字键键入数字,导通测试模式设定,可利用S1[项目选择]切换为一般/瞬间状态。瞬间导通测试次数,请依需要利用数字键键入数字,按下S5 [线材归零]可执行线材归零的动作(当您欲执行线材归零时,请先插好归零治具)。

F 归零意指将所有PIN 脚完全短路后,予以量测其值并储存于机器内部,并修正杂散电容阻抗,以确保量测准确度。建议每三个月归零一次以确保准确度。

c. 电阻设定编辑 ( R)

首先按下[R],按S1[拷贝上行]可作拷贝上行资料的动作,按S2[删除此行]可作删除所选定行数之资料,按S5[*前一行]可使光标移至现有数据的**行上,按S6[*后一行]可使光标移至现有数据的*后一行上,请利用方向键移动至您所要设定的项目,键入您的规格管制标准值,当您利用方向键移动至标准值时, 按下S1 [单步学习],则目前所在之标准值会经由学习的方式测出待测,物指定点位之标准值按下S2 [全部学习],则所有标准值皆会经由学习的方式测出待测物指,定点位之标准值, 按下S4 [全部相同],则所有标准值皆会与所指定点位的标准值相同,按下S5 [归零], 按下[Enter]即进行归零动作,按下S6[**归零]即可**所作电阻归零之资料.

d. 电容设定编辑 (Capacitance )

按下[C],然后按S1[拷具上行]可作拷具上行资料的动作, 再按S2[删除此行]可作删除所选定行数之资料,再按S5[*前一行]可使光标移至现有数据的**行上,再按S6[*后一行]可使光标移至现有数据的*后一行上,,利用方向键移动至您所要设定的项目,然后键入您的规格管制标准值,当您利用方向键移动至标准值时,面显按下S1 [单步学习],则目前所在之标准值会经由学习的方式测出待测

物指定点位之标准值,按下S2 [全部学习],则所有标准值皆会经由学习的方式测出待测物指,定点位之标准值,按下S4 [全部相同],则所有标准值皆会与所指定点位的标准值相同,按下S5 [归零]即可进行归零动作。按下[Enter]即进行归零动作,按下S6[**归零]即可**所作电容归零之资料。

e. 高压设定编辑 (HIPOT)

此功能为DC 绝缘、AC 耐压的测试电压、频率、时间、规格及其它项目之设定。按下[Hipot]利用方向键移动至您所要设定的项目,键入您的规格管制标准值.

f. 测试模式设定 (MODE)

测试动作设定是在设定测试时之动作与相关的设定。首先按下[Mode],请以[↑]或[↓]移动至您所要设定之项目,设定完毕,可按S6[测试项目]以设定欲进行测试之项目,按下S6[测试项目],LCD 显示画面如下,请以[↑]或[↓]移动至您所要设定之项目,按下S1[项目选择]切换是否进行所选定项目之测试。项目说明如下n 断短路判定值 请按S1[项目选择]切换设定。数值为2 KΩ/5/10/20/50 KΩ

n 线材种类 请按S1[项目选择]切换一般/点测/单边

n *大容许电容量 请按S1[项目选择]切换设定数值为

0.05uF /0.1 /0.2/0.5/1uF

n 测试启动方式 请按S1[项目选择]切换其设定,共有三种选择

– 自动 测试激活方式之设定为自种激活

– 手动 测试激活方式之设定为手动激活

– 连续 测试激活方式之设定为连续激活

n 自动测试插入延迟 设定测试治具阀门延迟时间,测试时若应用治

具阀门时,其动作需有一段延迟时间,因此实

际测试时间需延,请利用数字键键入

n 连续测试间隔时间 连续测试时两待测物(DUT)测试之时间区隔,请

利用数字键键入

n 连续测试次数 请利用数字键键入连续测试次数

n 测试有错误时 当测试有误时,测试继续与否之设定请按S1 [项

目选择]切换其设定为停止/不测高压/全部测完

n 短断路端点判断 请按S1[项目选择]切换设定为是/否

n 单边测试灵敏度 判断有线与否(线愈长,灵敏度数值愈高)

当显示出灵敏度数值>您所设定的单边测试灵

敏度数值时,即判定为有线

n 瞬短断测试时间 请利用数字键键入瞬短断路测试时间

n 瞬短断测试*大点位 请按S1[项目选择]切换设定为128 / 256

若您所购置之机台为128Pin 则无此设定项目,此项目*大功能在节

省瞬短断测试时间

F 单边测试只有Port A(A 槽)有效(即指A1~A64),当测试模式设定中之线材种

类设定为{单边},且单边测试灵敏度设为{0},此时进行短断路学习,实例

测试如下:将待测线材置于Port A(A 槽)按下[Learn],LCD 画面显示如下

一般上无线状态所量测出来的数值约为20 左右。所以很明显地可以看出有

线点位及线数,此时可依您的需要设定单边测试灵敏度(建议设定在有线/

无线数值之中)以此为例,若我们将单边测试灵敏度设为70 (约20~120 之中间值),再按下,[Learn],LCD 画面显示如下:由此,我们即可马上知道有线数为6,即有6 条线.当您对测试模式设定中之短断路端点判断设定为∣是∣时,当测试断短路

发生错误时,系统会自动去侦测出发生断路之点位所在!

. 综合测试实作

做完以上的设定之后,即可进行综合测试实作。其因操作程序之不同,可细分为两种:实时测试(Real Time Test)与已存测试(Existed Test),分别说明如下:

1. 实时测试

此部份是将已储存在主存储器内之测试条件设定为测试之条件,实时对待

测物予以测试,是*常用的测试方法,其步骤说明如下先检视测试条件设定是否正确

(b) 按下[Mode]即显示测试模式设定画面,请检视并确认测试模式设定是否正确,并依需要予以更改,确认无误后,请按[EXIT]跳离,回到主画面,按下[TEST]后即开始测试,测试完毕或须中断测试时,请按[EXIT]跳离

2. 已存测试(Existed Test)

您可将储存在内存内之已存盘案(Existed File)加载至主存储器后予以执行

测试,其操作说明如下:首先按下[File],再请以[↑]或[↓]移动光标,选定欲加载之文件名称,确认后按下[Enter],测试机开始把选定之档案加载主存储器中,此时LCD 画面将跳回主画面,目前档案即显示为您所选定之档案名称,此时即档案加载完成,请按[EXIT]跳离,回到主画面,按下[Mode]即显示测试模式设定画面,请检视并确认测试模式设定是否正确,并依需要予以更改,确认无误后,请按[EXIT]跳离,回到主画面,按下[TEST]后即开始测试,测试完毕或须中断测试时,请按[EXIT]跳离。

3. 档案管理(File)

您可执行选取旧档/删除旧档/档案排序之动作,以方便档案管理与取用,其

操作说明如下:选取档案。选取档案是将已储存在长久内存内之已存盘案加载至主存储器中,以方便

其它用途,包含测试、编辑、打印等,其操作说明如下:首先 按下[File],请以[↑]或[↓]移动光标,选定欲加载之文件名称,按下[Enter]即是执行加载档案的动作,测试机开始把选定之档案加载主存储器中,此时LCD画面将跳回主画面,目前档案即显示为您所选定之文件名称,

此时即档案加载完成

4. 循序设定

当您必须对同一待测物进行数种测试步骤时,您可将所需进行的测试步骤,以循序测试的方式设定,以简化您的测试程序并减少您的测试时间。首先按下[File],然后按下S1[循序设定],您可按S1[循序选档] ,LCD 显示画面如下:运用[↑]或[↓]移动光标,选择并设定待测物所需进行的测试步骤,举例如下,我们选定1RODD-A1RODD-B,1RODD-D 此三个档案,运用[↑]或[↓]移动光标移至1RODD-A,然后按下S3[选取],再运用[↑]或[↓]移动光标移至1RODD-B,然后按下S3[选取],继续运用[↑]或[↓]移动光标移至1RODD-D,然后按下S3[选取], 请按S4[完成], 如此即完成循序测试设定,另外亦可利用S2[循序学习]来设。举例如下,置入待测物,按下S2[循序学习], 按下S1[学习],则产生了第1 个步骤设定, 以此类推,可设定第1 个、第2 …….步骤,假设我们共设定了5 个。测试步骤,设定完成后,并按下S3[完成], 如此亦可完成循序测试设定,按下S3[循序测试]或[TEST],进行第1 测试步骤, **步骤PASS,LCD 画面显示{等待测试步骤2},循序完成1,2,3,4,5 个测试步骤后,  以此类推至完成所设定的5 个步骤之后, 如此即完成循序测试。

F 每一个测试步骤完成后,机器会扫瞄短断路(O/S),当短断路(O/S)状态改变

后,机器才会进行下一个测试步骤

F 若要机器不必等短断路(O/S)状态改变即进行下一个测试步骤,请将该测试

步骤档案测试模式中的{测试起动方式}设定为½连续½即可

5. 建立新檔

建立新的档案于长久内存内中之功能,其操作说明如下:首先 按下[File],按下S2[建立新檔]即可进行建立新档的动作,键入您所喜欢之文件名称,确认您欲建立之文件名称并按下[Enter]即完成建立新档之动作。

6. 删除旧档

删除旧档是将已储存于长久内存内之档案长久删除,以避免占用宝贵的永

久内存,其操作说明如下

 首先按下[File]并以[↑]或[↓]移动光标,选定欲删除之文件名称,按下S5[删除旧档]即可执行删除档案的动作,确认您欲删除之文件名称并按下[Enter]即完成删除档案之动作.

7. 档案排序

档案排序功能,可使您依其需要快速对已存有之档案作排序之动作,其操

作说明如下:

首先按下[File],按下S6[档案排序],即可依您的需要作出档案排序之动作,共有五个

选择,详列如下:

n 依文件名称由大至小排列

n 依文件名称由小至大排列

n 依储存顺序由小至大排列

n 依档案日期由大至小排列

n 依档案日期由小至大排列

8.档案储存(Save)

档案储存是将在主存储器内之资料储存于长久内存,以方便其它用途,包含加载、测试、编辑、打印等,其操作说明如下:首先请先检视测试条件设定是否正确,然后 确认无误后,请回到主画面,按下[Save]您可直接使用[EditKey]中之文数字键键入您喜欢的名称,然后按下[Enter]确认,即完成储存档案的工作。项目 符号 量测范围电阻 R 0.1W~1.0MW,二极体测试 D 0.0V~7.0V,导通 COND 0.1W~50.0W,高压(漏电流) IL 0.1mA~5 mA,绝缘电阻 IR 1MW~500MW,断/短路 O/S 2KW~50KW,瞬间短断路测试 2KW~50KW,瞬间导通测试 0.1W~50.0W,直流高压绝缘测试,200~700Vdc,50V Resolution,±5%准确度。

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